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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits - Amith Singhee,Rob A. Rutenbar - cover

LIBRO INGLESE

Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits

Name: Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Price: 225.20 EUR
Availability: InStock
Author: Amith Singhee
ISBN: 9400736878

di Amith Singhee (Autore)

Rob A. Rutenbar (Autore)

Springer, 2012

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Descrizione

As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.

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Dettagli

Autore:

Amith Singhee, Rob A. Rutenbar

Editore:

Springer

Collana:

Lecture Notes in Electrical Engineering

Anno:

2012

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

195 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9789400736870

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