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Scan Statistics - Joseph Glaz,Joseph Naus,Sylvan Wallenstein - cover

LIBRO INGLESE

Scan Statistics

di Joseph Glaz (Autore)

Joseph Naus (Autore)

Sylvan Wallenstein (Autore)

Springer-Verlag New York Inc., 2010

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In many statistical applications the scientists have to analyze the occurrence of observed clusters of events in time or space. The scientists are especially interested to determine whether an observed cluster of events has occurred by chance if it is assumed that the events are distributed independently and uniformly over time or space. Applications of scan statistics have been recorded in many areas of science and technology including: geology, geography, medicine, minefield detection, molecular biology, photography, quality control and reliability theory and radio-optics.

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Dettagli

Autore:

Joseph Glaz, Joseph Naus, Sylvan Wallenstein

Editore:

Springer-Verlag New York Inc.

Collana:

Springer Series in Statistics

Anno:

2010

Rilegatura:

Paperback / softback

Pagine:

372 p.

Testo in English

Dimensioni:

235 x 155 mm

EAN:

9781441931672

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