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DC, microwave, noise, and degradation properties of GaN based HEMTs - Congyong Zhu - cover
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DC, microwave, noise, and degradation properties of GaN based HEMTs
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Dettagli

2014
Paperback / softback
144 p.
Testo in English
229 x 152 mm
222 gr.
9783639708325
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