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EBOOK IN LINGUA STRANIERA

MEMS Reliability

di Mark G. da Silva (Autore)

Allyson L. Hartzell (Autore)

Herbert R. Shea (Autore)

Springer, 2016

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Descrizione

The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it. MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.

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Dettagli

Autore:

Mark G. da Silva, Allyson L. Hartzell, Herbert R. Shea

Anno edizione:

2016

Editore:

Springer

Formato:

EPUB2 con Adobe DRM

Testo in en

Compatibilità:

Tutti i dispositivi (eccetto Kindle) Scopri di più

Layout:

Reflowable

EAN:

9781441960184

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